Дослідник Метт Коул протягом трьох років проводив стрес-тестування 351 карти пам’яті формату MicroSD, що представляють 52 різні бренди та 111 моделей. У ході експерименту на ці накопичувачі було записано загалом 133 петабайти даних. Станом на сьогодні 177 карток повністю припинили функціонувати, перейшли у режим читання або зазнали критичних помилок верифікації секторів. Ще 107 пристроїв перебувають у процесі безперервного запису, а 67 очікують своєї черги на звільнення слотів у тестувальних стендах.
Методологія дослідження передбачала поділ усіх накопичувачів на три категорії: споживчі, високотривалі та промислові моделі. У категорії споживчих рішень середній показник витривалості становив 10 000 циклів програмування, верифікації та стирання даних. До п’ятірки лідерів за надійністю увійшли бренди PNY, Kingston, Delkin Devices, Lexar та Samsung. Окрему увагу було приділено продукції Amazon Basics, яка продемонструвала відсутність виходів із ладу протягом 788 днів безперервної роботи, досягнувши показника у 16 600 циклів при записі 4,2 петабайта даних.
Водночас результати виявили і показники найгіршої продуктивності серед популярних виробників. У цей перелік увійшли моделі від ADATA, Gigastone, Micro Center, Silicon Power та SanDisk. Зокрема, SanDisk визначено як статистичне відхилення, оскільки 6 із 7 протестованих карток цього бренду вийшли з ладу. Автор проєкту наголошує, що умови експлуатації в межах експерименту є екстремальними та значно перевищують типові сценарії використання в побутовій електроніці, що дозволяє виявити граничні межі зносу NAND-пам’яті.
Для забезпечення безперервної роботи такого обсягу обладнання було задіяно складну інфраструктуру. Вона включає кілька міні-ПК на базі процесорів Intel N95, N100 та N150, а також ряд ноутбуків, таких як MSI GE62VR-7RF, Lenovo IdeaPad Y850 та ASUS ROG Strix Hero II. Уся апаратна частина потребує значних фінансових вкладень як для придбання носіїв інформації, так і для обслуговування обчислювальних потужностей, які забезпечують постійний потік даних для виявлення дефектів пам’яті.
Інженерна спільнота відзначає цінність таких тестів для визначення меж надійності компонентів. Експерти вказують, що подібні випробування, відомі як HALT або HASS, є стандартними інструментами оцінки якості промислової продукції. Проте звертається увага на технічні обмеження поточного дослідження, зокрема на неможливість контролю температури контролерів кожного окремого пристрою та відмінності у конфігураціях зчитувачів, що можуть впливати на кінцевий показник витривалості конкретних моделей накопичувачів у різних умовах експлуатації.
