Исследователь Мэтт Коул в течение трех лет проводил стресс-тестирование 351 карты памяти формата MicroSD, представляющих 52 различных бренда и 111 моделей. В ходе эксперимента на эти накопители было записано в общей сложности 133 петабайта данных. На сегодняшний день 177 карт полностью прекратили функционировать, перешли в режим чтения или подверглись критическим ошибкам верификации секторов. Еще 107 устройств находятся в процессе непрерывной записи, а 67 ожидают своей очереди на освобождение слотов в тестовых стендах.
Методология исследования предусматривала разделение всех накопителей на три категории: потребительские, высоковыносливые и промышленные модели. В категории потребительских решений средний показатель выносливости составил 10 000 циклов программирования, верификации и стирания данных. В пятерку лидеров по надежности вошли бренды PNY, Kingston, Delkin Devices, Lexar и Samsung. Отдельное внимание было уделено продукции Amazon Basics, которая продемонстрировала отсутствие выходов из строя в течение 788 дней непрерывной работы, достигнув показателя в 16 600 циклов при записи 4,2 петабайта данных.
В то же время результаты выявили и показатели худшей производительности среди популярных производителей. В этот перечень вошли модели от ADATA, Gigastone, Micro Center, Silicon Power и SanDisk. В частности, SanDisk определен как статистическое отклонение, поскольку 6 из 7 протестированных карт этого бренда вышли из строя. Автор проекта подчеркивает, что условия эксплуатации в рамках эксперимента являются экстремальными и значительно превышают типичные сценарии использования в бытовой электронике, что позволяет выявить предельные границы износа NAND-памяти.
Для обеспечения непрерывной работы такого объема оборудования была задействована сложная инфраструктура. Она включает несколько мини-ПК на базе процессоров Intel N95, N100 и N150, а также ряд ноутбуков, таких как MSI GE62VR-7RF, Lenovo IdeaPad Y850 и ASUS ROG Strix Hero II. Вся аппаратная часть требует значительных финансовых вложений как для приобретения носителей информации, так и для обслуживания вычислительных мощностей, которые обеспечивают постоянный поток данных для выявления дефектов памяти.
Инженерное сообщество отмечает ценность таких тестов для определения пределов надежности компонентов. Эксперты указывают, что подобные испытания, известные как HALT или HASS, являются стандартными инструментами оценки качества промышленной продукции. Однако обращается внимание на технические ограничения текущего исследования, в частности на невозможность контроля температуры контроллеров каждого отдельного устройства и различия в конфигурациях считывателей, которые могут влиять на конечный показатель выносливости конкретных моделей накопителей в различных условиях эксплуатации.
